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用正电子湮没技术研究掺杂粉末β-C2S的缺陷
研究简报 | 更新时间:2022-08-16
    • 用正电子湮没技术研究掺杂粉末β-C2S的缺陷

    • Study of defects in doped β-C2S powder samples by positron annihilation

    • 核技术   1989年12卷第5期
    • 收稿日期:1987-11-25

      纸质出版日期:1989-05

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  • 沈德勋, 滕敏康, 尹传元, 等. 用正电子湮没技术研究掺杂粉末β-C2S的缺陷[J]. 核技术, 1989,12(5):288-291. DOI:

    Dexun Shen, Minkang Teng, Chuanyuan Yin, et al. Study of defects in doped β-C2S powder samples by positron annihilation[J]. Nuclear techniques, 1989, 12(5): 288-291. DOI:

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