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中国科学院上海原子核研究所
收稿日期:1986-03-17,
纸质出版日期:1986-12
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乐安全, 江立人, 顾连学, 等. 手表零件镀层测厚仪[J]. 核技术, 1986,09(12):34-37,57.
Anquan Le, Liren Jiang, Lianxue Gu, et al. A thickness gauge used for plating layer on watch parts[J]. Nuclear techniques, 1986, 09(12): 34-37,57.
在手表生产中,由于机芯零件的电镀层厚度难以控制,影响手表的装配精度、走时准确和使用寿命。尤其在每年黄梅季节,常发现零件生锈报废和手表返修除锈,这不仅影响手表美观,而且影响手表的产量、质量和成本。为了有效地控制手表零件的镀层厚度和贵重金属用量,并能指导电镀工艺,迫切需要对手表零件镀层厚度作快速无损测量。
By means of the X-ray fluorescence technique
the thickness of a plating layer can be measured relatively. With the aid of a microprocessor
the value of the measured(µm) can be printed out directly. The objects of measurement can be cobalt-nickel plating layer on the base of steel or brass and gold plating layer on the base of nickel white copper. The measuring range of thickness is usually 1—6µm with an error of less than ±0.3µm
and the area for the measurement is usually no less than 2 mm in diameter.
乐安全 等 , 核技术 , 4 , 1 ( 1982 )。
张家骅 等 , 放射性同位素X射线荧光分析 , 北京 , 原子能出版社 , 1981 年,第 285 页。
林金锌 等 , 核技术 , 7 , 15 ( 1986 )。
徐君权 等 , 用于X射线分析的密封式正比计数管(核探测器和核电子学1979年会议资料汇编) , 北京 , 原子能出版社 , 1982 年,第 111 页。
徐君权 等 , 核技术 , 2 , 8 ( 1981 )。
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