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半导体探测器的厚度确定及CsI（Tl）的刻度
更新时间：2021-03-12
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    • 半导体探测器的厚度确定及CsI（Tl）的刻度

    • Thickness determination of silicon detector and calibration of CsI(Tl)

    • 核技术   2001年第6期
    • 中图分类号： TL814

    • 纸质出版日期：2001-06-01

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  • [1]魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江.半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度[J].核技术,2001(06):468-472. DOI：

    WEI Zhiyong DUAN Limin WU Heyu JIN Genming LI ZUyu ZHANG Baoguo WANG Hongwei XIAO Zhigang LIU Yongying WANG Sufang ZHU Yongtai HU Rongjiang. Thickness determination of silicon detector and calibration of CsI(Tl)[J]. Nuclear techniques, 2001, (6): 468-472. DOI：

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