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平面型硅光电二极管PIN的研制及其基本性能测试
更新时间:2021-03-12
    • 平面型硅光电二极管PIN的研制及其基本性能测试

    • R&D of Si PIN diode and its performance test

    • 核技术   2006年第4期
    • 中图分类号: TL81
    • 纸质出版日期:2006-04-01

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  • [1]李成波,袁坚,孟秋英,周书华,张录,张太平,宁宝俊,田大宇.平面型硅光电二极管PIN的研制及其基本性能测试[J].核技术,2006(04):305-308. DOI:

    LI Chengbo1 YUAN Jian1 MENG Qiuying1 ZHOU Shuhua1 ZHANG Lu2 ZHANG Taiping2 NING Baojun2 TIAN Dayu2 1. R&D of Si PIN diode and its performance test[J]. Nuclear techniques, 2006, (4): 305-308. DOI:

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