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用正电子湮没技术研究不同化学成分的二元TiAl合金中的微观缺陷
更新时间:2021-03-12
    • 用正电子湮没技术研究不同化学成分的二元TiAl合金中的微观缺陷

    • Microdefects in binary TiAl alloys with different chemical compositions investigated by positron annihilation technique

    • 核技术   2002年第8期
    • 中图分类号: TG146.2
    • 纸质出版日期:2002-08-01

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  • [1]邓文,钟夏平,黄宇阳,熊良钺,曹名洲,龙期威.用正电子湮没技术研究不同化学成分的二元TiAl合金中的微观缺陷[J].核技术,2002(08):573-577. DOI:

    DENG Wen 1, 2 ZHONG Xiaping 1 HUANG Yuyang 1 XIONG Liangyue 2, 3 CAO Mingzhou 3 LONG Qiwei 2, et al. Microdefects in binary TiAl alloys with different chemical compositions investigated by positron annihilation technique[J]. Nuclear techniques, 2002, (8): 573-577. DOI:

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