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AMS测量32Si的ΔE-Q3D方法
低能加速器技术、射线技术及应用 | 更新时间:2021-03-05
    • AMS测量32Si的ΔE-Q3D方法

    • The ΔE-Q3D method for AMS measurement of 32Si

    • 核技术   2010年33卷第7期
    • 中图分类号: TL81
    • 纸质出版日期:2010-07-01

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  • [1]龚杰,李朝历,王伟,陆丽燕,李世琢,何明,姜山.AMS测量~(32)Si的ΔE-Q3D方法[J].核技术,2010,33(07):490-496. DOI:

    GONG Jie1 LI Chaoli1 WANG Wei1 LU Liyan1 LI Shizhuo2 HE Ming1 JIANG Shan1 1. The ΔE-Q3D method for AMS measurement of 32Si[J]. Nuclear techniques, 2010, 33(7): 490-496. DOI:

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中国科学院上海应用物理研究所
厦门大学 材料学院
中国科学院大学
中国科学院上海应用物理研究所 嘉定园区
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