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平板封头与筒体连接区疲劳可靠性分析
疲劳寿命评估及监测系统 | 更新时间:2021-06-03
    • 平板封头与筒体连接区疲劳可靠性分析

    • Fatigue reliability analysis on the interface of the plane head and the barrel

    • 核技术   2013年36卷第4期 文章编号:040638
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.040638    

      中图分类号: TH49;TB114.3
    • 纸质出版日期:2013

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  • [1]陈惠亮,姚伟达,曹明,黄庆,薛国宏.平板封头与筒体连接区疲劳可靠性分析[J].核技术,2013,36(04):198-202. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.040638.

    CHEN Huiliang YAO Weida CAO Ming HUANG Qing XUE Guohong. Fatigue reliability analysis on the interface of the plane head and the barrel[J]. Nuclear techniques, 2013, 36(4): 040638 DOI: 10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.040638.

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