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350 kV高压X射线密度测井探测深度特性及影响
核物理、交叉学科研究 | 更新时间:2024-10-25
    • 350 kV高压X射线密度测井探测深度特性及影响

    • Depth-of-investigation characteristics and influence of 350-kV high-voltage X-ray density logging

    • 在密度测井领域,研究人员利用蒙特卡罗方法研究了X射线源密度测井仪器的探测深度特性,发现其探测深度随源距增加而变大,与137Cs源测井仪存在探测深度差异。同时,研究了井壁泥饼对密度测井响应的影响。
    • 核技术   2023年46卷第10期 文章编号:100502
    • DOI:10.11889/j.0253-3219.2023.hjs.46.100502    

      中图分类号: TL99;P631.8+17
    • 收稿日期:2023-02-18

      修回日期:2023-03-15

      纸质出版日期:2023-10-15

    移动端阅览

  • 王虎,刘睿,岳爱忠等.350 kV高压X射线密度测井探测深度特性及影响[J].核技术,2023,46(10):100502. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2023.hjs.46.100502.

    WANG Hu,LIU Rui,YUE Aizhong,et al.Depth-of-investigation characteristics and influence of 350-kV high-voltage X-ray density logging[J].NUCLEAR TECHNIQUES,2023,46(10):100502. DOI: 10.11889/j.0253-3219.2023.hjs.46.100502.

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